导磁体内裂检测方案

SENIS缺陷扫描系统用作生产线中的质量控制检测工具,以检测磁体和非磁化坯料中的裂纹和不均匀性。SENIS利用其创新的涡流探头来检测裂纹材料中涡流路径的不均匀分布。与其他技术相比,涡流技术有几个优点:

  • 可以在磁化部件和非磁化部件中检测到裂纹
  • V可以检测到微小的裂缝,甚至几微米的大小
  • 无法检测到涂层下或内部材料下不可见的裂纹和不均匀性

 

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